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點(diǎn)測驗(yàn):此測驗(yàn)適用于電容效應(yīng)較小或可疏忽的設(shè)備,例如短接線。
在較短的時(shí)刻距離內(nèi)施加測驗(yàn)電壓,直到到達(dá)穩(wěn)定的讀數(shù)停止,或許在固定的時(shí)刻段(一般為60秒或更短)內(nèi)施加測驗(yàn)電壓。在測驗(yàn)結(jié)束時(shí)搜集讀數(shù)。關(guān)于歷史記錄,將根據(jù)讀數(shù)的歷史記錄繪制圖表。對(duì)趨勢的觀察是在一段時(shí)刻內(nèi)進(jìn)行的,一般是數(shù)年或數(shù)月。
此測驗(yàn)一般是針對(duì)測驗(yàn)或歷史記錄履行的。溫度和濕度的改變或許會(huì)影響讀數(shù),必要時(shí)有必要進(jìn)行補(bǔ)償。
耐時(shí)測驗(yàn):該測驗(yàn)適用于旋轉(zhuǎn)機(jī)械的猜測性和預(yù)防性保護(hù)。
在特定時(shí)刻(一般每隔幾分鐘)獲取接連的讀數(shù),并比較讀數(shù)的差異。杰出的絕緣將顯示電阻值的繼續(xù)添加。假如讀數(shù)停滯不前,且讀數(shù)未如預(yù)期那樣添加,則絕緣或許較弱,或許需求引起留意。濕潤且受污染的絕緣體或許會(huì)降低電阻讀數(shù),因?yàn)樗鼈儠?huì)添加測驗(yàn)期間的走漏電流。只需在被測器件中沒有顯著的溫度改變,溫度對(duì)該測驗(yàn)的影響就可以疏忽不計(jì)。
極化指數(shù)(PI)和介電吸收比(DAR)一般用于量化耐時(shí)測驗(yàn)成果。
極化指數(shù)(PI)
極化指數(shù)界說為10分鐘電阻值與1分鐘電阻值之比。建議將AC,DC旋轉(zhuǎn)機(jī)械在B,F(xiàn)和H類溫度下的PI的最小值設(shè)為2.0,而關(guān)于A類設(shè)備的PI的最小值應(yīng)為2.0 。
留意:某些新的絕緣系統(tǒng)對(duì)絕緣測驗(yàn)的響應(yīng)速度更快。它們一般從GΩ范圍的測驗(yàn)成果開始,得出PI在1和2之間。在這些情況下,可以疏忽PI計(jì)算。假如1分鐘絕緣電阻高于5GΩ,則計(jì)算出的PI或許沒有意義。
階躍電壓測驗(yàn):當(dāng)設(shè)備的額外電壓高于絕緣電阻測試儀發(fā)生的可用測驗(yàn)電壓時(shí),此測驗(yàn)特別有用。
逐步將不同的電壓電平施加到被測設(shè)備。建議的測驗(yàn)電壓比率為1:5。每個(gè)步驟的測驗(yàn)時(shí)刻相同,一般為60秒,從低到高。此測驗(yàn)一般在低于設(shè)備額外電壓的測驗(yàn)電壓下運(yùn)用。測驗(yàn)電壓電平的快速添加會(huì)在絕緣上發(fā)生額外的應(yīng)力,并使缺點(diǎn)失效,從而導(dǎo)致較低的電阻值。
測驗(yàn)電壓選擇
由于絕緣電阻測驗(yàn)由高直流電壓組成,因而有必要選擇恰當(dāng)?shù)臏y驗(yàn)電壓,以防止對(duì)絕緣施加過大的應(yīng)力,否則或許導(dǎo)致絕緣毛病。測驗(yàn)電壓也或許根據(jù)國際標(biāo)準(zhǔn)而改變。